透射電鏡，即透射電子顯微鏡（TEM），電子束在穿過樣品時，會和樣品中的原子發(fā)生散射，樣品上某一點同時穿過的電子方向是不同，這樣品上的這一點在物鏡1-2倍焦距之間，這些電子通過過物鏡放大后重新匯聚，形成該點一個放大的實像，可以看到在光學(xué)顯微鏡下無法看清的小于0.2um的超微結(jié)構(gòu)，主要應(yīng)用于物質(zhì)內(nèi)部的超微結(jié)構(gòu)觀察。